X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過程。

　　X 射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發只發生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態等。樣品制備過程由于經過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。

　　X熒光光譜儀的優勢特點都有哪些呢？

　　1、設計理念先進：采用能量色散光譜分析方法，選用50W功率的X射線光管直接激發樣品產生X射線熒光，德國進口高精度SDD探測器和多道分析器接收X熒光信號，獲得樣品中各元素的計數強度并繪出光譜圖，根據各元素特征能量及其強度進行定性和定量分析。并采用樣品旋轉技術增加樣品測試面積，提高結果重復性和準確度。*擺脫了以往化學方法進行元素分析的繁瑣操作過程。

　　2、應用范圍廣泛：可分析粉末、顆粒、溶液、溶膠、固體等多種類型的樣品中元素含量，如測定煤中磷，煤灰成分分析（氧化鈉、氧化鎂、三氧化二鋁、二氧化硅、五氧化二磷、三氧化硫、氧化鉀、氧化鈣、三氧化二鐵等）。

　　3、分析元素范圍寬：可分析元素范圍從鈉（Na）～鈾（U），元素含量從ppm～100%。

　　4、安全性高：符合相關規定要求，產品質量好，安全性能高，并獲得國家環境生態部的豁免許可。

　　5、使用成本低：X熒光光譜儀采用真空測量模式不需消耗任何氣體和化學試劑，用戶后期使用成本極低。